電子連接器可靠性試驗及其測試方法
電子連接器可靠性試驗及其測試方法
發布時間：2019.11.07 新聞來源：東莞市豐派電子有限公司 瀏覽次數：
在(zai)各種(zhong)軍(jun)(jun)機(ji)和武(wu)器(qi)裝(zhuang)備中，電(dian)(dian)連接(jie)器(qi)的(de)(de)用(yong)(yong)量(liang)較大，特別是(shi)飛機(ji)上使(shi)(shi)用(yong)(yong)電(dian)(dian)連接(jie)器(qi)的(de)(de)用(yong)(yong)量(liang)特大。一(yi)般(ban)來(lai)講一(yi)架飛機(ji)電(dian)(dian)連接(jie)器(qi)的(de)(de)使(shi)(shi)用(yong)(yong)量(liang)可(ke)達數百件至幾(ji)千件，牽扯到好幾(ji)萬個線路。因(yin)此(ci)，電(dian)(dian)連接(jie)器(qi)除了(le)要滿足一(yi)般(ban)的(de)(de)性(xing)(xing)能要求外，特別重要的(de)(de)要求是(shi)電(dian)(dian)連接(jie)器(qi)必須達到接(jie)觸(chu)良好，工作(zuo)(zuo)可(ke)靠(kao)，維護方(fang)便，其(qi)工作(zuo)(zuo)可(ke)靠(kao)與否直接(jie)影響飛機(ji)電(dian)(dian)路的(de)(de)正(zheng)常工作(zuo)(zuo)，涉(she)及整個主機(ji)的(de)(de)安危。為(wei)此(ci)，主機(ji)電(dian)(dian)路對(dui)電(dian)(dian)連接(jie)器(qi)的(de)(de)質(zhi)(zhi)量(liang)和可(ke)靠(kao)性(xing)(xing)有(you)非常嚴格(ge)的(de)(de)要求，也(ye)正(zheng)因(yin)為(wei)電(dian)(dian)連接(jie)器(qi)的(de)(de)高(gao)質(zhi)(zhi)量(liang)和高(gao)可(ke)靠(kao)性(xing)(xing)，使(shi)(shi)它也(ye)廣泛應用(yong)(yong)于航空(kong)、航天、國防等(deng)軍(jun)(jun)用(yong)(yong)系統(tong)中。 電(dian)(dian)子連接(jie)器(qi)可(ke)靠(kao)性(xing)(xing)試(shi)驗及其(qi)測試(shi)方(fang)法 連接(jie)器(qi)測試(shi)一(yi)般(ban)涉(she)及以下幾(ji)個項目： 插拔力測試(shi)、耐久性(xing)(xing)測試(shi)、 絕緣電(dian)(dian)阻(zu)測試(shi)、耐電(dian)(dian)壓測試(shi)、振(zhen)動測試(shi)、機(ji)械沖(chong)擊測試(shi)、冷熱沖(chong)擊測試(shi)、混合氣體腐蝕測試(shi)等(deng)
連(lian)接器具體測試(shi)項目如(ru)下：
（一(yi)）插(cha)拔(ba)力測試
參(can)考標(biao)準：EIA-364-13
目的：驗(yan)證連接器的插拔力是否符合產品(pin)規格(ge)要求
原理：將連(lian)接器(qi)按規定速率進行完全(quan)插合或拔出，記錄相應的力值
（二）耐久性測試
參考(kao)標準：EIA-364-09
目的：評估反復插拔對連(lian)接(jie)器的影響(xiang)，模擬實際(ji)使用(yong)中連(lian)接(jie)器的插拔狀況
原理(li)：按(an)照規(gui)定速(su)率(lv)連續插(cha)拔連接器直至達到規(gui)定次數。
（三(san)）絕緣電阻測試
參考標準：EIA-364-21
目(mu)的(de)：驗證連接器的(de)絕(jue)緣性能是否符(fu)合(he)(he)電路(lu)設計的(de)要求或(huo)經受高溫(wen)，潮(chao)濕等環境應力時，電子線材其阻值是否符(fu)合(he)(he)有關技術(shu)條件的(de)規定。
原理：在連(lian)接器的(de)絕緣(yuan)部(bu)分施加電壓，從而使絕緣(yuan)部(bu)分的(de)表(biao)面或(huo)內(nei)部(bu)產生漏電流(liu)而呈現出來的(de)電阻(zu)值。
（四）耐電壓測試
參考標準：EIA-364-20
目的(de)：驗(yan)證(zheng)連接(jie)器(qi)在額(e)定電壓下(xia)是(shi)(shi)否(fou)能安全工作，能否(fou)耐(nai)受過電位(wei)的(de)能力，從而(er)評(ping)定連接(jie)器(qi)絕(jue)緣材料或絕(jue)緣間(jian)(jian)隙(xi)是(shi)(shi)否(fou)合適原理：在連接(jie)器(qi)接(jie)觸件與接(jie)觸件之間(jian)(jian)，接(jie)觸件與外(wai)殼之間(jian)(jian)施(shi)加規(gui)定電壓并保持規(gui)定時間(jian)(jian)，觀察樣品是(shi)(shi)否(fou)有(you)擊穿或放(fang)電現象。
（五）接觸電阻測試
參考標準：EIA-364-06/EIA-364-23
目的：驗證電流流經接(jie)(jie)觸件(jian)的接(jie)(jie)觸表面時(shi)產生的電阻值原理：通過對連(lian)接(jie)(jie)器(qi)通規定(ding)電流，測(ce)量連(lian)接(jie)(jie)器(qi)兩端電壓降(jiang)從而得(de)出電阻值
（六）振動測(ce)試：
參考(kao)標準(zhun)：EIA-364-28
目的：驗證振動(dong)對(dui)電(dian)連(lian)接器及其(qi)組(zu)件性(xing)能的影響(xiang)
振(zhen)動(dong)(dong)類(lei)型(xing)：隨(sui)機振(zhen)動(dong)(dong)，正弦振(zhen)動(dong)(dong)
（七）機械沖(chong)擊測試
參(can)考標(biao)準：EIA-364-27
目的：驗證連接(jie)器及其組件耐(nai)沖擊的能力或評定其結構(gou)是否牢固
測試(shi)波(bo)形(xing)：半正(zheng)弦波(bo)，方波(bo)
（八(ba)）冷熱沖擊測試(shi)
參考標(biao)準：EIA-364-32
目(mu)的：評估連接器在急速的大溫差變化下，對于(yu)其功能品質的影(ying)響(xiang)
（九(jiu)）溫濕度組合(he)循(xun)環測試(shi)
參考標準：EIA-364-31
目(mu)的：評估(gu)連接器在經過高溫高濕環境儲存后對連接器性(xing)能(neng)的影(ying)響
（十(shi)）高溫測試
參考標(biao)準：EIA-364-17
目的：評估連接器暴露在高溫環境中(zhong)于規定時間后(hou)端(duan)子和絕緣體性(xing)能(neng)是(shi)否發生變(bian)化
（十一(yi)）鹽(yan)霧測試
參考標(biao)準：EIA-364-26
目的：評(ping)估連接(jie)器，端子，鍍層耐鹽霧腐蝕(shi)能力
（十二）混合氣體(ti)腐蝕測試(shi)
參考標準：EIA-364-65
目(mu)的：評估連接器(qi)暴露在不同濃度(du)混(hun)合(he)氣(qi)體中的耐腐蝕能力及(ji)對其性能的影(ying)響(xiang)
（十(shi)三(san)）電(dian)子線(xian)材搖擺(bai)測試
連(lian)接器具體測試(shi)項目如(ru)下：
（一(yi)）插(cha)拔(ba)力測試
參(can)考標(biao)準：EIA-364-13
目的：驗(yan)證連接器的插拔力是否符合產品(pin)規格(ge)要求
原理：將連(lian)接器(qi)按規定速率進行完全(quan)插合或拔出，記錄相應的力值
（二）耐久性測試
參考(kao)標準：EIA-364-09
目的：評估反復插拔對連(lian)接(jie)器的影響(xiang)，模擬實際(ji)使用(yong)中連(lian)接(jie)器的插拔狀況
原理(li)：按(an)照規(gui)定速(su)率(lv)連續插(cha)拔連接器直至達到規(gui)定次數。
（三(san)）絕緣電阻測試
參考標準：EIA-364-21
目(mu)的(de)：驗證連接器的(de)絕(jue)緣性能是否符(fu)合(he)(he)電路(lu)設計的(de)要求或(huo)經受高溫(wen)，潮(chao)濕等環境應力時，電子線材其阻值是否符(fu)合(he)(he)有關技術(shu)條件的(de)規定。
原理：在連(lian)接器的(de)絕緣(yuan)部(bu)分施加電壓，從而使絕緣(yuan)部(bu)分的(de)表(biao)面或(huo)內(nei)部(bu)產生漏電流(liu)而呈現出來的(de)電阻(zu)值。
（四）耐電壓測試
參考標準：EIA-364-20
目的(de)：驗(yan)證(zheng)連接(jie)器(qi)在額(e)定電壓下(xia)是(shi)(shi)否(fou)能安全工作，能否(fou)耐(nai)受過電位(wei)的(de)能力，從而(er)評(ping)定連接(jie)器(qi)絕(jue)緣材料或絕(jue)緣間(jian)(jian)隙(xi)是(shi)(shi)否(fou)合適原理：在連接(jie)器(qi)接(jie)觸件與接(jie)觸件之間(jian)(jian)，接(jie)觸件與外(wai)殼之間(jian)(jian)施(shi)加規(gui)定電壓并保持規(gui)定時間(jian)(jian)，觀察樣品是(shi)(shi)否(fou)有(you)擊穿或放(fang)電現象。
（五）接觸電阻測試
參考標準：EIA-364-06/EIA-364-23
目的：驗證電流流經接(jie)(jie)觸件(jian)的接(jie)(jie)觸表面時(shi)產生的電阻值原理：通過對連(lian)接(jie)(jie)器(qi)通規定(ding)電流，測(ce)量連(lian)接(jie)(jie)器(qi)兩端電壓降(jiang)從而得(de)出電阻值
（六）振動測(ce)試：
參考(kao)標準(zhun)：EIA-364-28
目的：驗證振動(dong)對(dui)電(dian)連(lian)接器及其(qi)組(zu)件性(xing)能的影響(xiang)
振(zhen)動(dong)(dong)類(lei)型(xing)：隨(sui)機振(zhen)動(dong)(dong)，正弦振(zhen)動(dong)(dong)
（七）機械沖(chong)擊測試
參(can)考標(biao)準：EIA-364-27
目的：驗證連接(jie)器及其組件耐(nai)沖擊的能力或評定其結構(gou)是否牢固
測試(shi)波(bo)形(xing)：半正(zheng)弦波(bo)，方波(bo)
（八(ba)）冷熱沖擊測試(shi)
參考標(biao)準：EIA-364-32
目(mu)的：評估連接器在急速的大溫差變化下，對于(yu)其功能品質的影(ying)響(xiang)
（九(jiu)）溫濕度組合(he)循(xun)環測試(shi)
參考標準：EIA-364-31
目(mu)的：評估(gu)連接器在經過高溫高濕環境儲存后對連接器性(xing)能(neng)的影(ying)響
（十(shi)）高溫測試
參考標(biao)準：EIA-364-17
目的：評估連接器暴露在高溫環境中(zhong)于規定時間后(hou)端(duan)子和絕緣體性(xing)能(neng)是(shi)否發生變(bian)化
（十一(yi)）鹽(yan)霧測試
參考標(biao)準：EIA-364-26
目的：評(ping)估連接(jie)器，端子，鍍層耐鹽霧腐蝕(shi)能力
（十二）混合氣體(ti)腐蝕測試(shi)
參考標準：EIA-364-65
目(mu)的：評估連接器(qi)暴露在不同濃度(du)混(hun)合(he)氣(qi)體中的耐腐蝕能力及(ji)對其性能的影(ying)響(xiang)
（十(shi)三(san)）電(dian)子線(xian)材搖擺(bai)測試
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